塞貝克系數(shù)電阻測試儀新品隆重上市

產(chǎn)品介紹

熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響，它基于三個基本效應：塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。塞貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發(fā)現(xiàn)的，描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。與之相反，熱電冷卻效應描述通過施加電流獲得溫度差的現(xiàn)象。電能和熱能的轉(zhuǎn)換效率是材料物理特性，用塞貝克系數(shù)S表征，其與溫度相關。

目前，使用化石燃料生成的二氧化碳導致全球變暖加劇，而人們也面臨能源枯竭的問題，利用熱電轉(zhuǎn)換元件收集余熱并有效利用引起人們的廣泛注意。另外，利用熱電冷卻效應進行制冷是熱電特性的重要應用。

隨著化石燃料越來越少，二氧化碳排放量不斷增加，全球變暖也在加劇，因此有效的熱電轉(zhuǎn)換越來越受關注。利用熱電發(fā)電機（TEG）收集熱機余熱（如汽車或傳統(tǒng)發(fā)電廠），并將其轉(zhuǎn)換成電能，以提高其轉(zhuǎn)換效率。同時，通過帕爾貼進行冷卻的應用也越來越受關注，例如激光器中的恒溫溫度臨界元件、優(yōu)異熱電材料。通常根據(jù)無量綱優(yōu)值ZT來衡量材料的熱電轉(zhuǎn)換效率，由熱導率、塞貝克系數(shù)和導電率計算得出。

由此，華測儀器研發(fā)了一系列簡單易用和優(yōu)異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。

熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。

近年來直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動機和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。

為了應對一系列挑戰(zhàn)性的應用，華測儀器已經(jīng)開發(fā)出HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)/電阻率測試系統(tǒng)用于分析材料和器件的特性。

特點

• 文本編輯

• 重復測量可少的輸入?yún)?shù)

• 實時測量分析

• 測量曲線比較：多達32條曲線

• 曲線扣除

• 曲線放大縮小

• 一階/二階求導

• 多重峰分析

• 樣品溫度多點校正

• 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）

• 焓變多點校正

• 熱流Cp測量

• 評估結(jié)果保存及導出

• ASCII數(shù)據(jù)導入與導出

• 數(shù)據(jù)生成到MS Excel

• 信號控制測量測序

產(chǎn)品優(yōu)勢

寬溫區(qū)覆蓋與高適應性

l 支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍，兼容低溫至超高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；

l 提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。

高精度與多功能集成

l 塞貝克系數(shù)測量范圍 1～2500μV/K ，準確度達 ±7% ，重復性 ±3% ，精準捕捉微弱熱電效應；

l 電導率測量范圍覆蓋 0.01～2×105 S/cm ，準確度 ±5～8% ，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；

l 采用靜態(tài)直流法（塞貝克系數(shù)）與四端法（電阻率），確保測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。

靈活兼容性與操作便捷性

l 支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；

l 可調(diào)探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結(jié)構(gòu)，保障樣品接觸穩(wěn)定性，減少測量誤差；

l 電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區(qū)與材料特性。

高穩(wěn)定性與長周期測試能力

l 電源輸出 0～1A ，具備長期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集；

l 配備K/S/C型熱電偶，實現(xiàn)精準溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。